TCXO温特調整検査装置

TCXO温特調整検査装置

管理番号
  • AKV616A
  • 特許第3777395号
  • 特許第5802931号

商品型番:

ATIS860TC

概要

高精度TCXOの周波数温度特性を調整(7点)し、補正値書き込み後に温度特性検査(5点)を行う装置です。

特徴

  • 温調バッファステージ及びサブPCの並列処理により高スループットを実現しました。
  • 低温から高温まで複数の温調ステージを有します。
  • ペルチェ式温調プレートによりインデックス上搬送キャリアの温調を行います。
  • トレイ~搬送キャリア間は自動移載されるのでソケットへの手挿入作業が不要です。

仕様

対象ワーク SMD型TCXO
温度範囲 -40~+85℃ (ペルチェ式)
システム構成 ST1:初期検査
ST2~8:ADJ1~7 (低温ST.×3、+25℃、高温ST3)
ST9:ROM 書込み
ST10~14:TC test1~5 (低温ST×2、+25℃、 高温ST×2)
外形寸法 W1600×D11850×H1580㎜ (モニタ、表示灯、冷却チラー等除く)
  • 小型水晶振動子生産設備

  • 水晶発振器・TCXO生産設備

  • 音叉型水晶振動子生産設備

  • サーミスタ水晶振動子生産設備

  • センサーデバイス生産設備

  • 半導体関連設備

  • 移載機関連設備

  • レンズ組立装置

  • カメラモジュール関連設備