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温度スロープ検査装置

温度スロープ検査装置

管理番号
  • AKV617A

商品型番:

ATST860TC

概要

GPS用TCXOの周波数温度傾斜特性を1℃ステップで検査する装置です。

特徴

  • 全数検査を目的とした、高速・高精度の温度スロープ検査装置です。
  • ペルチェ式温調プレートにより、-35~85℃の範囲で連続かつ直線的な温度変化を行います。(スロープ測定範囲は、-25~75℃)
  • ワークは80個取りの専用キャリアで供給し、キャリア上で温度スロープ検査を行います。
  • 小型セラミックパッケージに対応します。

仕様

対象ワーク SMD型TCXO
走査温度仕様 -35~85℃(ペルチェ式)
スロープ測定範囲 -25~75℃ (-35~85℃で温度変化)
温度勾配 0.2℃/sec
検査仕様 周波数の昇温特性・降温特性
周波数の温度特性
外形寸法 W1000×D850×H1500㎜ (モニタ、表示灯、冷却チラー等除く)
  • 小型水晶振動子生産設備

  • 水晶発振器・TCXO生産設備

  • 音叉型水晶振動子生産設備

  • サーミスタ水晶振動子生産設備

  • センサーデバイス生産設備

  • 半導体関連設備

  • 移載機関連設備

  • レンズ組立装置

  • カメラモジュール関連設備