サーミスタ素子温度特性検査装置

サーミスタ素子温度特性検査装置

管理番号
  • AKV630A
  • 特許第4876230号
  • 特許第5802931号

商品型番：

ATHT860

概要

サーミスタ素子の特性検査を２５℃、１００℃の２温度条件下で行います。インデックス上で８個同時に測定することで高速化を実現しています。

特徴

  • ペルチェ式温調プレート（回転式）により高精度に温度制御を行います。
  • 検査終了後は、良品はテーピング、不良品はボックスに選別収納します。

仕様

対象ワーク SMD型サーミスタチップ
温度点数 2点（常温、高温）
サイクルタイム 0.7秒/個
外形寸法 W1200×D1100×H1700㎜ （モニタ、表示灯及び別置きチラー除く）

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