温度特性検査装置

温度特性検査装置

管理番号
  • AKV623A
  • 特許第3777395号
  • 特許第5403567号

商品型番:

ATIS860TH

概要

インデックステーブルの周囲に配置したペルチェ式温調ユニットにより、連続的に温度特性検査を行う装置です。

特徴

  • ペルチェ式温調プレートにより高速かつ高精度の温調を行います。
  • 部品供給~温特検査~部品回収までの工程を一台の装置で行います。
  • 恒温槽式と比較して、省スペース化、省電力が期待できます。
  • ソケットボードが不要なので、機種追加時の専用部設計・確認の負担が軽減できます。

仕様

対象ワーク サーミスタ付き水晶振動子
温度範囲 -40~+85℃ (ペルチェ式)
サイクルタイム 1.0 sec/個
外形寸法 W1560×D1850×H1580㎜ (モニタ、表示灯及び別置きチラー除く)
  • 小型水晶振動子生産設備

  • 水晶発振器・TCXO生産設備

  • 音叉型水晶振動子生産設備

  • サーミスタ水晶振動子生産設備

  • センサーデバイス生産設備

  • 半導体関連設備

  • 移載機関連設備

  • レンズ組立装置

  • カメラモジュール関連設備