センサーデバイス生産設備

  • 加速度センサ温特調整検査装置

    • 加速度センサーの姿勢制御を高精度に行います。
    • ペルチェ式温調プレート(-40~+105℃)により高精度に温調を行います。(連続式)
    • 省スペース化、省電力化、節水化(冷却市水不要)を実現しました。
  • 角速度センサ温特調整検査装置

    • 角速度センサーの角速度制御を高精度で行います。
    • ペルチェ式温調プレート(-40~+105℃)により高精度に温調を行います。(連続式)
    • 省スペース化、省電力化、節水化(冷却市水不要)を実現しました。
  • タイヤ空気圧センサ温特調整検査装置

    • ペルチェ式温調プレート(25℃、-30℃、+100℃)により高精度に温度制御を行います。(連続式)
    • 温度印加状態で加圧制御を行います。(圧力範囲:100~600kPa)
    • 検査終了後、良品ワークにレーザマーキングを行います。
  • 気圧センサ温特装置

    • ペルチェ式温調プレートにより高精度に温度制御を行います。
    • 低温~高温(-30℃~+85℃)の測定ステージを複数ステージ配備し、複数個同時に調整検査を行います。(バッチ式)  
    • 温度印加状態で加圧制御を行います。
    • 検査終了後は、良品トレイ、NGボックスに選別収納します。
  • 圧力センサ温特装置

    • ペルチェ式温調プレート(-30~85℃)により高精度に温度制御を行います。(連続式)
    • 温度印加状態で加圧制御を行います。
    • 検査終了後は、良品トレイ、NGトレイに選別収納します。
  • サーミスタ素子温度特性検査装置

    • ペルチェ式温調プレート(回転式)により高精度に温度制御を行います。
    • 検査終了後は、良品はテーピング、不良品はボックスに選別収納します。