センサーデバイス生産設備

サーミスタ素子温度特性検査装置

管理番号
  • AKV630A
  • 特許第4876230号
  • 特許第5802931号

商品型番:

ATHT860

概要

サーミスタ素子の特性検査を25℃、100℃の2温度条件下で行います。インデックス上で8個同時に測定することで高速化を実現しています。

特徴

  • ペルチェ式温調プレート(回転式)により高精度に温度制御を行います。
  • 検査終了後は、良品はテーピング、不良品はボックスに選別収納します。

仕様

対象ワーク SMD型サーミスタチップ
温度点数 2点(常温、高温)
サイクルタイム 0.7秒/個
外形寸法 W1200×D1100×H1700㎜ (モニタ、表示灯及び別置きチラー除く)
  • 小型水晶振動子生産設備

  • 水晶発振器・TCXO生産設備

  • 音叉型水晶振動子生産設備

  • サーミスタ水晶振動子生産設備

  • センサーデバイス生産設備

  • 半導体関連設備

  • 移載機関連設備

  • レンズ組立装置

  • カメラモジュール関連設備